Instalaciones Complementarias Instalaciones Complementarias: Área de Microfabricación: Dual Beam y Microcaracterización: SEM, XPS y XRD Microscopio electrónico de barrido ambiental SEM-Quanta FEG-250, ESEM Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo CSEM-FEG INSPECT F50 Difractómetro de rayos X de alta resolución Bruker D8 Advance: HR-XRD y XRR Espectrómetro de fotoelectrones de rayos-X (XPS-AES) modelo Kratos AXIS UltraDLD
Microscopio electrónico de barrido ambiental SEM-Quanta FEG-250, ESEM
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo CSEM-FEG INSPECT F50
Difractómetro de rayos X de alta resolución Bruker D8 Advance: HR-XRD y XRR
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