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TITAN Imagen de alta resolución (High-Base): FEI TITAN3

  TITAN Imagen de alta resolución (High-Base): FEI TITAN3

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 TitanCube
Los microscopios Titan (FEI Company) son equipos de nueva generación que incorporan un corrector de aberración esférica (CEOS Company). En concreto, el Titan high-base incorpora el corrector en la lente objetivo, la que forma la imagen, por lo que es el microscopio más apropiado para obtener imágenes de ultra-alta resolución (HRTEM). También incorpora un biprisma y una lente de Lorentz para hacer holografía magnética y microscopía Lorentz de alta resolución.

 

Al poder trabajar a bajo voltaje (60 kV, 80 kV) el corrector permite obtener alta resolución incluso en materiales muy sensibles al haz de electrones tales como grafeno, nanotubos de carbono o de hetero-átomos, zeolitas y materiales mesoporosos, etc.

 

Los voltajes de trabajo para este microscopio son de 60, 80, 120, 200 and 300 kV.

 

Los investigadores de centros públicos o privados así como los profesionales del mundo industrial que requieran el uso de este equipo tendrán también a su disposición el apoyo científico y técnico de nuestro personal altamente cualificado y experimentado.




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¿Qué información podemos obtener con este equipo?

Imagen (resolución 0.09 nm)
  • Información sobre la morfología y tamaño del material (TEM).
  • Estructura cristalina (difracción de electrones y TEM de ultra-alta resolución: HRTEM).
  • Información sobre la composición de la muestra: imagen en modo barrido-transmisión con detector anular de alto ángulo: STEM-HAADF. Imagen filtrada en energía (EFTEM) que proporciona información sobre un elemento concreto.
 Análisis químico
  • Espectroscopia de pérdida de Energía de Electrón (EELS).
  • Combinado con el modo barrido-transmisión (STEM) composición química con resolución espacial: mapas y perfiles de composición.
 Análisis de campos
  • Estudio de campo magnético y eléctrico mediante Holografía electrónica.
  • Estudio de dominios magnéticos: microscopía Lorentz.
  • Estudio de campos tensión /deformación mediante análisis de imágenes de alta resolución.
 Medidas in situ
  • Cambios de fase cristalina (difracción de electrones).
  • Estructura de defectos por imagen campo claro/oscuro (BF/DF) y haz débil (WBDF).

Especificaciones técnicas

El Titan High-base incorpora un corrector de imagen y trabaja a voltajes entre 60 y 300 kV. Se encuentra dentro de una “caja” o “cubo” que actúa a modo de filtro de perturbaciones térmicas y mecánicas. Está equipado con un cañón de emisión de campo Schottky-FEG y una cámara CCD Gatan de 2k x 2k para adquisición de imágenes de alta resolución (HRTEM). Las principales técnicas de trabajo son:
  • HREM: para la obtención de imágenes de alta resolución (HRTEM) el microscopio Titan High-base está equipado con una lente objetivo SuperTwin® y un corrector de aberración esférica de la lente objetivo CETCOR (CEOS Company) que permite una resolución en imagen de 0,09 nm.
  • STEM: El microscopio consta de un módulo de barrido para trabajar en modo STEM (barrido-transmisión) y detectores de campo claro (BF), campo oscuro (DF) y anular de alto ángulo (HAADF).
  • EELS: El filtro de energía Gatan Tridiem 863 permite a este microscopio registrar imágenes con filtro de energía (EFTEM) y espectroscopia de pérdida de energía de electrón (EELS) con una resolución de ̴ 0,7 eV.
  • Microscopía Lorentz y Holografía: El microscopio también está equipado con una lente Lorentz y un biprisma electrostático para hacer análisis de materiales magnéticos.

Imágenes

In Situ Formation of Carbon Nanotubes Encapsulated within Boron Nitride Nanotubes via Electron Irradiation Ref.: ACS Nano 8, 8419-8425 (2014) doi:10.1021/nn502912w

Aberration corrected HRTEM image of a magnetite nanoparticle epitaxially coated by a 1-nm-thick MgO layer. The insets show the FFT calculated from the areas marked with white squares. Ref.: Chem. Mater., 2012, 24 (3), pp 451–456. doi:10.1021/cm202306z