LMA

Servicios y Tarifas

  Instalaciones, Servicios y Tarifas

 

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Nuestras instalaciones únicas están disponibles para los centros de investigación públicos y privados, así como para las empresas, que encontrarán en el equipamiento del LMA, una capacidad única de investigación y desarrollo tecnológico disponible en muy pocos centros de investigación a nivel mundial.
A continuación puede encontrar las instalaciones disponibles en nuestro centro, así como qué tipo de información se puede obtener con cada equipo. Además, un cuidadoso diseño de experimentos combinados en los diferentes instrumentos del LMA le proporcionará una visión completa de la morfología, composición y propiedades de su muestra.
Para solicitar el uso de alguno de los equipos del LMA, puede completar los formularios disponibles para cada instrumento. Si necesita información adicional o asistencia técnica sobre como el LMA puede ayudar a resolver un problema específico, no dude en ponerse en contacto con nosotros vía correo electrónico lma@unizar.es o por teléfono: +34 976 76 29 80
Área de Microfabricación: Dual Beam y Microcaracterización: SEM, XPS y XRD
Nova200Cryogenic Dual Beam Nova 200
CleanRoomEquipos de Doble Haz (Dual Beam) Helios Nanolab 600 y 650
QuantaMicroscopio electrónico de barrido ambiental SEM-Quanta FEG-250, ESEM
InspectF50Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo CSEM-FEG INSPECT F50
XRDDifractómetro de rayos X de alta resolución Bruker D8 Advance: HR-XRD y XRR
XPSEspectrómetro de fotoelectrones de rayos-X (XPS-AES) modelo Kratos AXIS UltraDLD
Área de Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) Area

TitanCube
TITAN Imagen de alta resolución (High-Base): FEI TITAN3

Titan_Low_Base_trTITAN analítico (Low-base): FEI TITAN Low-base

F30 Microscopio Electrónico de Transmisión Tecnai F30

SamplePrep_1
Servicio de Preparación de Muestras para el TEM
Scanning Probe Microscopy (SPM) Area

Moncayo
Microscopios de barrido de sonda (SPM) a bajas temperaturas (LT) y ultra alto vacío (UHV-LT)

SPM_HM
Laboratorio de Microscopia de Sonda Local en altos campos magnéticos y bajas temperaturas

SPM_Env
Microscopía de sonda local (SPM) en condiciones ambientales