El microscopio electrónico de barrido ambiental Quanta FEG 250 (ESEM) es un SEM de emisión de campo. El ESEM Quanta FEG 250 permite trabajar bajo tres diferentes modos de presión, la máxima presión que se puede obtener es de 2600 Pa. Este microscopio permite la observación de muestras biológicas, poco conductoras, sin tratamiento previo ya que podemos controlar la humedad relativa de la cámara y la temperatura de la muestra para evitar daños durante el tiempo de observación.

Este equipo permite aumentar la temperatura de la muestra hasta 1000 ºC observando durante dicho proceso de calentamiento los cambios en la topografía del material. Este microscopio de barrido posibilita la desaceleración de electrones sobre muestras no conductoras con lo que obtendríamos resoluciones de hasta 1,4 nm incluso a 1 kV.

Los investigadores de centros públicos o privados así como los profesionales del mundo industrial que requieran el uso de este equipo dispondrán también, si así lo solicitan, del apoyo científico y técnico de nuestro personal altamente cualificado y experimentado.

Imágenes / Análisis

Utilizando los diferentes detectores disponibles en este microscopio, puede obtenerse la siguiente información:

  • Imágenes con electrones secundarios, información topográfica: utilización de un detector ETD / FLD (del inglés Everhart-Thornley Detector/ Large Field Detector) para electrones secundarios.
  • Imagen y composición empleando un detector GAD/vCD (Gaseous Analytical Detector/Low voltage High Contrast Detector). Pueden obtenerse imágenes de electrones retrodispersados.
  • Imagen con electrones secundarios procedentes de la fase gas utilizando un detector GSED/GAD (Gaseous Secondary Electron Detector/Gaseous Analytical Detector).
  • Análisis químico elemental mediante espectroscopia EDX (Energy Dispersive X-Ray spectroscopy).
    Imágenes STEM (barrido-transmisión) empleando un detector STEM.

Experimentos in situ

  • Calentamiento de la muestra hasta 1000 ºC que puede acompañarse de imágenes de electrones secundarios y espectroscopia EDX.
  • Modo Peltier: pueden inducirse cambios en la presión, temperatura y humedad relativa en la cámara de muestras obteniéndose imágenes de electrones secundarios, retrodispersados y espectroscopia EDX.
  • Imágenes en modo STEM en muestras húmedas y también en muestras secas sometidas a alto vacío.

Requerimientos de las muestras

Las muestras líquidas y no conductoras que deseen estudiarse en condiciones de alto vacío deben ser secadas y metalizadas antes de introducirlas en la cámara de muestras. En cambio, las muestras estudiadas a bajo vacío o en modo ESEM no requieren ningún tipo de preparación previa.

Los tipos de muestras que pueden estudiarse con el SEM-Quanta FEG-250 incluyen:

  • Materiales en 3D, películas, recubrimientos, polvos compactados, etc. bien sean conductoras o no conductoras.
  • Muestras compatibles con alto vacío, bajo vacío y modo ESEM.
  • Muestras húmedas o en medio líquido.
  • El tamaño de la muestra puede ir desde menos de 1 mm hasta 50 mm (área de observación 50 x 50 x 50 mm) para muestras en alto y bajo vacío. En el caso de estudios ESEM las muestras deben tener un tamaño hasta 5 mm.
  • Especificaciones del SEM-Quanta FEG-250
    SEM
    1 kV
    3.0 nm without BD
    30 kV
    1.0 nm
    3 kV (low vacuum)
    3.0 nm
    Máxima corriente de haz
    200 nA
    Vacío
    Modos
    Alto vacío
    Bajo vacío(por encima de 200 Pa)
    ESEM (2600 Pa)
    Stage
    X x Y x Z (mm)
    50 x 50 x 50mm
    Detección
    Estado sólido BSE
    BSED, vCD, DBS
    STEM
    STEM
    Bajo vacío
    LFD, GAD
    ESEM™
    GSED, GBSD, ESEM-GAD
    Imagen
    Estrategias de barrido
    FEI Smartscan™, DCFI
    Limpieza cámara
    CryoCleanerEC
    Cámara externa
    MAPS, Nav-Cam
    Cámara
    Cámara con 10 puertos

Laboratorio de Microscopías Avanzadas

Somos una iniciativa singular a nivel nacional e internacional. Ponemos a disposición de la comunidad científica e industrial las infraestructuras más avanzadas en microscopía electrónica y de sonda local para la observación, caracterización, nanoestructuración y manipulación de materiales a escala atómica y molecular.

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