LMA

Curso de Micro- y Nano-Caracterización de Superficies y Materiales Dirigido a Empresas

 

    Curso de Micro- y Nano-Caracterización de Superficies y Materiales Dirigido a Empresas y Usuarios Industriales

 

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El curso está dirigido a cuadros técnicos, graduados, licenciados, ingenieros y doctores de empresas de sectores implicados en materiales, recubrimientos y superficies incluyendo la industria química, plásticos, polímeros, textil, calzado, tecnología para el deporte, papel, industria electrónica y de sistemas inteligentes, electrodomésticos, industria de automoción, aeronáutica, energías renovables, metal, cerámica, industria alimentaria, material protésico, lentes de contacto y correctoras, biotecnología, industria biomédica, farmaceútica, nano-salud y nanoseguridad, nuevos materiales, etc.

Este curso está ofertado por ELECMI, Infraestructura Integrada de Microscopia Electrónica de Materiales. ELECMI, es una Infraestructura Científico Técnica Singular (ICTS) en el actual mapa de ICTS del Estado Español, compuesto por un total de 29 ICTS y un total de 59 nodos. Está formada por dos nodos, el CNME (Centro Nacional de Microscopia Electrónica) perteneciente a la Universidad Complutense de Madrid y el LMA (Laboratorio de Microscopias Avanzadas) localizado en el Instituto de Nanociencia de Aragón (INA) de la Universidad de Zaragoza.

El LMA, constituye una iniciativa singular a nivel nacional e internacional cuyo objetivo se centra en poner a disposición de la comunidad científica las infraestructuras y conocimientos más avanzados que existen en microscopía electrónica y de sonda local así como espectroscopias asociadas a la observación, caracterización, nanoestructuración y manipulación de materiales a escala atómica y molecular. Gracias a su instrumentación de última generación, calidad científica, tecnológica y de innovación, el LMA fue reconocido en 2014 por el MINECO como Instalación Científico Técnica Singular (ICTS) del país.

El Centro Nacional de Microscopía Avanzada (CNME), está diseñado, de acuerdo con el estudio realizado por la FECYT sobre Instalaciones Científico-Tecnológicas Singulares (ICTS) para desarrollar, implementar y ofertar a la comunidad científica nacional e internacional los métodos y técnicas más avanzados en microscopia electrónica de transmisión y barrido para el análisis estructural de materiales. Este Centro consta de una serie de microscopios de última generación, y de instrumentos y técnicas para la preparación avanzada de muestras, así como para la aplicación de métodos computacionales de tratamiento de imágenes. El CNME dispone de complementos técnicos y científicos que aumentan exponencialmente su potencia.

Agenda

Miércoles, 28 de Septiembre
  •  11.00h. Apertura del Curso y bienvenida.
  • 11.10h – 11.50h. Presentación del INA, del LMA y objetivos de este curso. A cargo del equipo de dirección: Dres. Ricardo Ibarra, Jesús Santamaría y Pilar Cea.
  • 12.00h– 13.50h. Breve presentación de otras técnicas INA y LMA a disposición de usuarios (FTIR, ATR, Raman, SERS, STM, XRD, etc.). Dr. Guillermo Antorrena
  • 13.00h – 14.20h. Visita a las instalaciones del LMA (2 grupos) a cargo de los Dres. Guillermo Antorrena y Pilar Cea.
  • 14.30h – 15.00h. Comida (catering).
  • 15.00h – 15.50h. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS): Fundamentos. Dra. Silvia Irusta.
  • 16.00h – 16.50h. XPS. Aplicaciones industriales. Dra. Silvia Irusta.
  • 17.00h – 17.30h. Pausa-café.
  • 17.30h – 18.20h. Microscopia electrónica de barrido (SEM): Fundamentos. Dr. José María de Teresa.
  • 18.30h – 19.30h. SEM. Aplicaciones industriales. Dr. José María de Teresa
Jueves, 29 de Septiembre
  • 09.00h – 10.20 h. Microscopia electrónica de transmisión (TEM). Fundamentos y aplicaciones. Dr. Cesar Magén.
  • 10.30h – 11.00h. Pausa-café.
  • 11.00h – 11.50h. Microscopia combinada de iones y electrones focalizados (Dual Beam). Fundamentos y aplicaciones industriales. Dr. José María de Teresa.
  • 12.00h – 13.20h. Microscopia de Fuerza Atómica (AFM). Fundamentos y aplicaciones industriales. Dr. José Luis Díez.
  • 13.30h – 14.00h. Comida (catering).
  • 14.00h – 15.50h. Taller-demo técnicas de caracterización.
    • Grupo 1: XPS. Dr. Guillermo Antorrena.
    • Grupo 2: SEM y Dual-Beam. Dra. Soraya Sangiao.
    • Grupo 3: TEM. Dres. Alfonso Ibarra y Rodrigo Fernández-Pacheco.
    • Grupo 4: AFM. Dr. José Luis Díez.
  • 16.00h – 16.30h…………Pausa-café.
  • 16.30h – 18.30h…………Taller-demo técnicas de caracterización.
    • Grupo 1: SEM y Dual-Beam. Dra. Soraya Sangiao.
    • Grupo 2: TEM. Dres. Alfonso Ibarra y Rodrigo Fernández-Pacheco.
    • Grupo 3: AFM. Dr. José Luis Díez.
    • Grupo 4: XPS. Dr. Guillermo Antorrena.
  • 21.00h ………………………Cena del curso para todos los asistentes.
Viernes, 30 de Septiembre
  • 09.00h – 10.50h. Taller-demo técnicas de caracterización.
    • Grupo 1: TEM. Dres. Alfonso Ibarra y Rodrigo Fernández-Pacheco.
    • Grupo 2: AFM. Dr. José Luis Díez.
    • Grupo 3: XPS. Dr. Guillermo Antorrena.
    • Grupo 4: SEM y Dual-Beam. Dra. Soraya Sangiao.
  • 11.00h – 11.30h. Pausa-café.
  • 11.30h – 13.20h. Taller-demo técnicas de caracterización.
    • Grupo 1: AFM. Dr. José Luis Díez.
    • Grupo 2: XPS. Dr. Guillermo Antorrena.
    • Grupo 3: SEM y Dual-Beam. Dra. Soraya Sangiao.
    • Grupo 4: TEM. Dres. Alfonso Ibarra y Rodrigo Fernández-Pacheco.
  • 13.30h – 14.00h…………Conclusiones y cierre del curso.
Lugar de Impartición:

Edificio I+D+i (sala de conferencias y laboratorios LMA). Campus Río Ebro. 50018, Zaragoza.

Cuota de Inscripción:
  • OPCION A: Con alojamiento incluido: 250 € (incluye 2 noches en régimen de AD).
  • OPCIÓN B:  Sin alojamiento: 200 €

La opción A incluye 2 noches de alojamiento en Hotel de 4* y régimen de Alojamiento y Desayuno (AD).

Número máximo de participantes:  28

 

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