Difractómetro de rayos X de alta resolución Bruker D8 Advance: HR-XRD y XRR
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El equipo de XRD es utilizado principalmente por investigadores que trabajan en el crecimiento de películas delgadas epitaxiales en las siguientes líneas:
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Películas delgadas tensionadas epitaxialmente
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Películas y nanoestructuras magnéticas para aplicaciones en Spintrónica
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Películas delgadas y multicapas multiferroicas
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Películas de materiales con efectos termoeléctricos (como el efecto Seebeck de spin)
La experiencia de nuestro personal científico y técnico está a disposición de los investigadores de centros de investigación públicos y privados, así como a profesionales del sector industrial que requieran del uso de este instrumento.
¿Qué tipo de información se puede obtener mediante la XRD?
Las técnicas XRD y XRR proporcionan la siguiente información en películas delgadas:
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Composición química
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Estructura cristalina
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Parámetros de red
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Orientación de sustrato y película
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Ángulo de desviación del corte en sustratos monocristalinos
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Calidad cristalina y textura
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Rugosidad
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Densidad
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Espesor
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Defectos, dislocaciones
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Tensión
Requisitos de las muestras
Aunque esta instalación es muy versátil y es posible el análisis de muestras de polvo, la configuración actual está optimizada para el estudio de películas delgadas.
Especificaciones técnicas
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Fuente de rayos X con ánodo de cobre
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Monocromador de Ge (022) (línea Cu Kα1)
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Óptica de haz paralelo (espejo de Göbel)
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Cuna euleriana y plataforma de traslación XYZ
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Plataforma reclinable (Zeta y Xi) para incidencia rasante
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Dispositivo de succión para fijar muestras planas
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Rendijas de Soller
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Atenuador del haz de rayos X
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Control automático de alineamiento con microscopio y láser
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Detector de centelleo
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Programas de análisis y bases de datos
Imágenes

Medida de XRR (línea negra) y ajuste usando el programa Leptos® de Bruker (línea rosa) en una heteroestructura epitaxial MgO//Fe3O4/MgO/Fe/MgO. En la tabla se recogen los valores de espesor y rugosidad (desviación cuadrática media).