Multimode V and Multimode VIII
Los microscopios de sonda de barrido son técnicas clave de la nanociencia y la nanotecnología, que dan soporte a una amplia gama de actividades multidisciplinares. El LMA alberga varios cabezales de AFM/STM polivalentes que cubren una amplia gama de aplicaciones en condiciones casi ambientales. Nuestras instalaciones albergan dos AFM Multimodo de Bruker (originalmente fabricados por Veeco y posteriormente absorbidos por Bruker). Tanto el Multimode V como el Multimode VIII ofrecen imágenes de alta calidad en los modos de contacto y dinámico. Los instrumentos están montados sobre mesas de amortiguación con aislamiento de vibraciones que permiten el funcionamiento con ruidos muy bajos. La superficie de las muestras puede mantenerse en condiciones ambientales, en atmósferas gaseosas bien definidas, así como sumergirse en líquido (utilizando una célula líquida). La temperatura de las muestras puede variar entre -22 y 200 °C.
Característica clave
- Máximo control ambiental;
- gran variedad de modos AFM;
- PeakForce™ (Multimode VIII) y HarmoniX™ (Multimode V) para una eficiente caracterización nanomecánica cuantitativa»;
Veeko Multimode VIII
Veeko Multimode V
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Con nuestros instrumentos SPM se puede obtener la siguiente información
- Morfología superficial. Topografía de la superficie de la muestra con una resolución de hasta 2 Å.
- Mapas nanomecánicos cuantitativos (QNM Peakforce™). Medida local cuantitativa del módulo elástico de la muestra, adhesión y deformación, así como la disipación de energía punta-muestra en superficies. (sólo en Multimode VIII)
- HarmoniX™ para la caracterización mecánica (sólo en Multimode V).
- Escáner Z de bucle cerrado de largo alcance (Pico Force) para espectroscopia de fuerza aplicada en biomoléculas, complejos y células, bacterias y virus
- Espectroscopia de fuerza de una sola molécula para estudios nanomecánicos mediante experimentos Pull-push para mediciones de fuerza inter e intra moleculares, con resolución de 1 pN.
- Microscopías de fuerza lateral (LFM).
- Modo de resonancia torsional (TRmode™).
- AFM conductivo (c-AFM). Medidas cuantitativas de resistencia eléctrica local.
- Microscopía de barrido de capacitancia (SCM).
- Microscopía de resistencia de barrido (SSRM) para mapeo de portadores de carga 2D en superficies semiconductoras.
- Microscopía de sonda de fuerza Kelvin (KPFM). Mediciones cualitativas del potencial de contacto superficial local.
- Microscopía de Fuerza Eléctrica (EFM) para la detección de la distribución de carga superficial y diferencias en el potencial superficial
- Microscopía de fuerzas magnéticas (MFM) para la detección de la magnetización superficial.
- Microscopía de fuerza piezo-resonante (PFM, sólo en campo). Utilización de la punta como electrodo y sensor de deformación superficial.
- Propiedades electroquímicas (EC-SPM). Estudio de reacciones químicas en superficies en entornos controlados.
La muestra debe inmovilizarse en un sustrato plano (por ejemplo, las biomoléculas deben inmovilizarse en una superficie de mica por adsorción o mediante un procedimiento covalente).
La muestra debe presentar una rugosidad inferior al rango del escáner piezoeléctrico.
El tamaño de la muestra debe ser lo suficientemente pequeño como para caber dentro del microscopio, alrededor de 1 cm2 de superficie y 0,5 cm de espesor.
Los tipos de muestras que pueden estudiarse con los SPM ambientales incluyen:
- Muestras biológicas (ADN, proteínas y péptidos; células, virus y bacterias; tejidos biológicos, etc.).
- Películas delgadas orgánicas e inorgánicas.
- Geles y polímeros.
- Medio ambiente: Aire, gas, líquido y celda electroquímica
- Rango de temperaturas: [-25, 200] ˚C
- Escáner (intercambiable): tipo J: 125 µm(X) x 125 µm(Y) x 5 µm(Z), tipo E: 12 µm x 12 µm x 3 µm; PicoForce 40 µm(X) x 40 µm(Y) x 20 µm(Z)
Fig 1: Air topography of Rizobacteria
Fig 2: Graphene nanoflakes on mica
Universidad de Zaragoza
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Actividad de I+D+I realizada por la Universidad de Zaragoza cofinanciada por el Gobierno de Aragón
Laboratorio de Microscopías Avanzadas
Somos una iniciativa singular a nivel nacional e internacional. Ponemos a disposición de la comunidad científica e industrial las infraestructuras más avanzadas en microscopía electrónica y de sonda local para la observación, caracterización, nanoestructuración y manipulación de materiales a escala atómica y molecular.
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