Tecnai F30

por | Nov 22, 2021 | Área de microscopia de Transmisión Electrónica (TEM)

Acceso bajo demanda

El Tecnai F30 (FEI) es un Microscopio Electrónico de Transmisión de alta resolución muy versátil, capaz de trabajar en los modos TEM y STEM (barrido y transmisión) y equipado con todas las técnicas analíticas para obtener información morfológica, estructural y composición de la muestra con resolución atómica.

Los voltajes de trabajo para este microscopio son de 200 y 300 kV.

Los investigadores de centros públicos o privados así como los profesionales del mundo industrial que requieran el uso de este equipo dispondrán también, si así lo requieren, del apoyo científico y técnico de nuestro personal altamente cualificado y experimentado.

Imagen (Resolución 0.19 nm)

  • Información sobre morfología y tamaño del material (TEM).
  • Estructura cristalina (difracción de electrones y TEM de alta resolución: HRTEM).
  • Información sobre la composición de la muestra: imagen en modo barrido-transmisión con detector anular de alto ángulo: STEM-HAADF; el contraste de la imagen depende directamente del número atómico (contraste-Z). La imagen filtrada en energía (EFTEM) proporciona información sobre un elemento concreto.
  • Reconstrucción tridimensional (3D) de la imagen: tomografía electrónica.

Análisis químico

  • Espectroscopias de Rayos X (EDX) y de pérdida de Energía de Electrón (EELS).
  • Combinado con el modo barrido-transmisión (STEM) proporciona información sobre la composición química con resolución espacial: espectros puntuales y perfiles de composición.

Análisis de campos

  • Estudio de campos tensión /deformación mediante análisis de imágenes de alta resolución.

Medida propiedades físicas in situ

  • Cambios de fase cristalina (difracción de electrones)
  • Estructura de defectos por imagen campo claro/oscuro (BF/DF) y haz débil (WBDF).
El FEI Tecnai F30 trabaja a 200 y 300 kV. Está equipado con un cañón de emisión de campo (FEG) y una lente objetivo SuperTwin®, que permite obtener una resolución de 0,19 nm. Al tener un módulo de barrido puede trabajar en modo TEM y en modo Barrido-Transmisión (STEM). Está equipado con un detector anular de alto ángulo (HAADF) para hacer imágenes de contraste Z. Está además equipado con un espectrómetro EDAX para hacer microanálisis de Rayos X y un Filtro de Energía Gatan Tridiem para hacer espectroscopia de pérdida de energía de electrón (EELS) e imagen filtrada en energía (EFTEM). Combinado con el modo STEM permite obtener mapas y perfiles de composición química. Para obtener imágenes en modo TEM el microscopio tiene la cámara Gatan Ultrascan CCD 2k x 2k.

El Tecnai F30 dispone además de una lente Lorentz para el estudio de dominios magnéticos en ausencia de campo magnético. Además, dispone de un módulo de tomografía y un portamuestras dedicado de Fischione ((+/- 70°) para hacer reconstrucciones 3D de imágenes tanto en modo TEM como en modo STEM.

Electron tomography reconstruction from a HGNP, a rough surface caused by fast galvanic replacement is shown. Ref.: Lab On Chip 2014, 14, 325-332
doi:10.1039/C3LC50999K

Spatial distribution of the elements of immuno-functionalized core-shell superparamagnetic magnetite nanoparticles.
Ref.: ACS Nano. 2013 May 28;7(5):4006-13
doi:10.1021/nn306028t

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