LMA

Veeco-Bruker Multimode 8 AFM

 

Veeco-Bruker Multimode 8 AFM

 

veeco brukerLas microscopias de sonda próxima o sonda local (SPM) son técnicas facilitadoras clave en Nanociencia y Nanotecnología, dando apoyo a un amplio espectro de actividades multisciplinarias. El LMA dispone de un cabezal AFM/STM multipropósito instalado sobre una mesa amortiguadora anti-vibraciones, que cubre la mayor parte de las necesidades científicas en torno a condiciones ambientales.

El Multimode 8 de Bruker (previamente Veeco) Veeco-Bruker es un microscopio SPM equipado con KPM (Microscopia Kelvin Probe), c-AFM (AFM-conductivo), celdas para medidas en líquidos y electroquímicas, módulo PicoForce para espectroscopia de fuerzas, controlador Peltier de temperatura variable (-22 ºC to 200 ºC), medidas de Torsion-mode y QNM (Quantitative Nanomechanical Property Mapping), y opción Peak Force.

 



 

¿Qué tipo de información se puede obtener con este instrumento?

  • Topografía y morfología de superficies con resolución de 1 nm.
  • Conductividad eléctrica (c‐AFM). Medidas cuantitativas de la resistencia eléctrica local.
  • Propiedades mecánicas (QNM Peakforce). Medidas locales cuantitativas del modulo elástico, la adesión, dureza, disipación de energía y deformación de superficies.
  • Potencial eléctrico de contacto (KPM). Medidas cualitativas de la distribución local de carga y densidad de momento dipolar.
  • Propiedades magnéticas (MFM). Análisis de la distribución de imanación de superficies.
  • Escaner de rango 50 m Pico-Force de ciclo cerrado en Z para espectroscopia de fuerzas de macromoléculas biológicas.
  • Estudios nanomecánicos mediante espectroscopia de fuerzas en moléculas individuales. Experimentos de aproximación-retracción para la obtencion de fuerzas intra- e inter-moleculares con resolución de 1 pN.
  • Propiedades electro-químicas (EC‐SPM). Estudio de reacciones químicas en superficies en entornos controlados.
  • Propiedades piezo y ferroeléctricas (PFM).
  • Dependencias térmicas. Rango de temperaturas: 250-500 K .
  • Topografía STM en condiciones ambientales

 

Requisitos de las muestras

Las muestras se deben inmovilizar sobre un sustrato lo más plano possible.

La superficie debe tener una rugosidad compatible con el rango del escáner.

El tamaño de la muestra debe ser suficientemente pequeño como para poder instalarse sobre el escáner del microscopio, en torno a una superficie de 1 cm2 y grosor no mayor de 0.5 cm. Tipos de muestras compatibles con el microscopio:

  • Muestras biológicas (AND, proteinas y péptidos, células, virus y bacterias, tejidos biológicos, etcétera).
  • Películas delgadas orgánicas o inorgánicas.
  • Nanopartículas.
  • Polímeros y geles.

 

Especificaciones técnicas

Entorno: aire, líquido o celda electroquímica
Temperature range: [-35, 200] ˚C
Rango escáner:  J) 200 µm x 200 µm x 5 µm E) 12 µm x 12 µm x 3 µm
Campo magnetico: No

 

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