Tomografía

Hay un límite en el ángulo que podemos alcanzar inclinando la muestra, que produce el problema denominado: “missing wedge”. Esta falta de proyecciones a determinados ángulos produce artefactos en el objeto reconstruido: Factor de alargamiento.

Ejemplos de Vitrificación y observación por cryo-TEM de vesículas poliméricas(izquierda), Nanoribbon polimérico (derecha). Ambas muestras pertenecen al grupo de Cristales Líquidos y Polímeros del INMA.

En el campo de la biología, hacer TEM de campo claro (BF-TEM) es el mejor método de obtención de imágenes para la adquisición de series de tomografía porque, para muestras amorfas, las intensidades de la imagen proyectada varían monotónicamente con el espesor del material. Por otro lado, en ciencia de materiales esta condición, la variación monotónica de las intensidades es difícil de garantizar en BF/HRTEM, donde las intensidades de imagen en muestras cristalinas están dominadas por el contraste de fase, el cual cambia al cambiar el ángulo relativo entre la muestra y el haz electrónico. Sin embargo, la técnica de microscopía electrónica de barrido-transmisión con un detector anular de campo oscuro (ADF-STEM) y el detector angular de alto ángulo (HAADF) suprimen más eficazmente el contraste de fase y de difracción, proporcionando imágenes de la intensidad que varían con el espesor proyectado de las muestras que pueden llegar hasta micras de espesor para materiales con bajo número atómico. El ADF-STEM también actúa como un filtro de paso bajo, eliminando los artefactos de realce de bordes comunes en el BF/HRTEM.

La tomografía puede proporcionar una reconstrucción fiable de la muestra, lo que es extremadamente importante para su aplicación en nanociencia y nanotecnología.